SDPX-1变压器绕组变形测试仪该试验所采用的方法为频率响应法，其测试原理如图1.1 所示。在变压器绕组的一端加入扫频信号VS，输出不同频率的正弦波电压，通过数字化记录装置同时检测不同扫描频率下绕组两端的对地电压信号Vi(n)和Vo(n)，并对数据进行处理，得到变压器的传递函数H(N)=20lg[Vo(n)/ Vi(n)] ，单位：dB

变压器绕组变形测试仪

被测变压器绕组

图1.1 频率响应分析法测试原理

频率响应法是利用的扫频测量技术，通过测量变压器各个绕组的频率响应特性变化，并对测试结果进行纵向或横向的相关性比较，即相当于比较变压器绕组的结构特性“指纹”图。如将变压器遭受短路冲击后测得的各个绕组的频率响应特性与原始图谱（或短路前测量的图谱）比较，并综合考虑变压器的运行情况，如是否经受近区短路冲击、短路电流大小等，从而诊断绕组是否存在变形。在进行变压器绕组变形试验过程中，我们发现频响法具有很高的灵敏度。
 

图1.2为变压器绕组变形测试原理图。*个谐振峰是由Cb与整个线圈的电

感L所决定的，即有      由于L是固定值，因此Cb越大，则*谐振峰的频率f1越小。

图1.2变压器绕组变形试验原理图

图中：Cs为串联的饼间电容；Cg为对地电容；

  Cb为套管对地电容；Ls为线圈电感

SDPX-1变压器绕组变形测试仪的诊断方法

   图谱之间的相互比较，主要是对比各谐振峰的移动情况。而幅值的变化，特别是高频部分，由于易受外界因素的影响，在判断时相对只起参考作用。
首先对同侧的三相绕组的频响特性曲线进行比较，如果曲线相似程度较好，谐振峰基本重合，则判断不存在绕组变形。
三相绕组间的相似性不好，则与原始图谱比较。若两次测量结果接近，可判断绕组无变形。如无原始图谱，则应与同型号同厂家同批次的变压器的测量结果比较。
当频响特性曲线低频段（0.5kHz～10kHz）的谐振峰发生明显变化时，说明绕组的电感变化造成整体明显变形。因为频率较低时，绕组的对地电容及饼间电容容抗较大，而感抗较小。绕组的电感发生变化，必然导致频率响应特性曲线低频段谐振峰左右移动。对绝大多数变压器而言，其三相绕组低频段频率响应特性曲线较为一致。
当频响特性曲线中频段（10kHz～100kHz）的谐振峰发生明显变化时，在该频率范围，绕组的分布电容和电感均发挥作用，因此根据谐振峰的变化能够较灵敏地反映绕组的局部变化。如果谐振峰左右移动或数目减少或增多，通常可认为绕组发生局部变形现象。对频响特性曲线的分析，重点应放在此频段。
当频响特性曲线高频段（100kHz～500kHz）的谐振峰发生明显变化时，说明绕组的对地电容变化了。频率较高时，绕组的感抗较大，基本被饼间电容旁路，电感变化对谐振峰的影响较小。对地电容的改变（如绕组整体位移或引线对地距离变化等）是造成该频段变化的主要因素。
现阶段，绕组变形诊断仍停留在根据频响特性的变化情况来判断绕组是否变形及变形的严重程度，尚难根据频响特性曲线判断绕组变形的具体部位。今后应加强这方面的研究，并尽快制定变压器绕组变形测试导则。

SDPX-1变压器绕组变形测试仪图片：